SDL470 EXTEC/美国 紫外线辐照度计是一款 UVA/UVC 光度计和数据记录仪。SDL470 可以分别测量 UVA 和 UVC 光源下的长波和短波紫外线辐照度。该仪表具备余弦修正滤波器、数据记录至Excel®格式、偏移调整以进行相对测量、Type-K/J热电偶输入用于温度测量（探头另售）、记录/回忆模式、最小和最大读数，以及数据保持和带禁用功能的自动关机功能。

型号：SDL470

更新日期：2026-09-15

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UV-A型北师大紫外辐照计（单通道）采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。 UV-A计量性能符合《JJG879-2015 紫外辐射照度计计量检定规程》一级标准。

型号：UV-A

更新日期：2026-09-14

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UV-A型北师大紫外辐照计（双通道）采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。 UV-A计量性能符合《JJG879-2015 紫外辐射照度计计量检定规程》一级标准。

型号：UV-A型

更新日期：2026-09-14

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UV313/UV340 北师大紫外辐照计（单通道） 采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

型号：UV313/UV340

更新日期：2026-09-14

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UV-B北师大紫外辐照计（双通道）采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

型号：UV-B型

更新日期：2026-09-14

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UV-B北师大紫外辐照计（单通道）采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

型号：UV-B

更新日期：2026-09-14

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WXS10北师大无线紫外辐照计（单通道）无线紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于杀菌、水处理、医疗、育种、光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路、光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

型号：WXS10

更新日期：2026-09-14

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ST-86LA 北师大手持式屏幕亮度计照度计是一款便携式自动量程的测试仪器。它采用SMT贴片工艺，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。它是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的，在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。

型号：ST-86LA

更新日期：2026-09-14

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